Počet záznamov: 1
Role of the gate-to-drain distance in the performance of the normally-off InAlN/GaN HEMTs
Názov Role of the gate-to-drain distance in the performance of the normally-off InAlN/GaN HEMTs Autor Kuzmík Ján 1960 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Spoluautori Ostermaier C. Pozzovivo G. Basnar B. Schrenk W. Carlin J.-F. Gonschorek M. Feltin E. Grandjean N. Douvry Y. Gaquire Ch. De Jaeger J.-C. Strasser G. Pogany D. Gornik E. Zdroj.dok. ASDAM 2010 : proceedings of the 8th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. P. 163-166. - Piscataway : IEEE, 2010 / Breza J. ; Donoval D. ; Vavrinský E. Jazyk dok. eng - angličtina Druh dok. rozpis článkov z periodík (rzb) Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2010 
článok
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2010
Počet záznamov: 1