Microscopic study of electrical properties of CrSi2 nanocrystals in silicon

Počet záznamov: 1

Názov	Microscopic study of electrical properties of CrSi2 nanocrystals in silicon
Autor	Dózsa L.
Spoluautori	Lányi Štefan 1944 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV

Spoluautori	Raineri V. Giannazzo F. Galkin N.G.
Zdroj.dok.	Nanoscale Research Letters. Vol. 6, no. 1 (2011), 209
Jazyk dok.	eng - angličtina
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rbx)
Ohlasy	ISAEV, M. Sh - GAIBOV, A. G. - ESHKULOV, A. A. Investigation of parameters of Schottky diodes based on chromium silicides. In II INTERNATIONAL SCIENTIFIC CONFERENCE ON APPLIED PHYSICS, INFORMATION TECHNOLOGIES AND ENGINEERING 25, PTS 1-5, 2020, vol. 1679. ISSN 1742-6588. Dostupné na: https://doi.org/10.1088/1742-6596/1679/2/022029.
	MAHATO, J. C. - DAS, Debolina - PAL, Arindam - PAL, Prabir - DEV, B. N. Sequential growth of self-organized epitaxial FeSi2 and CoSi2 nanostructures on Si(111)-7 x 7 surfaces. In APPLIED SURFACE SCIENCE, 2022, vol. 572. ISSN 0169-4332. Dostupné na: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2021.151397.
Kategória	ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
Kategória (od 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Typ výstupu	článok
Rok vykazovania	2011
Registrované v	WOS
Registrované v	SCOPUS
Registrované v	CCC
DOI	10.1186/1556-276X-6-209

článok

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	A

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2011	2010			1.061	Q1

Počet záznamov: 1