Confidence interval for the distance of two micro/nano structures and its applications in dimensional metrology

Počet záznamov: 1

Názov	Confidence interval for the distance of two micro/nano structures and its applications in dimensional metrology
Autor	Wimmer Gejza 1949- SAVMATEM - Matematický ústav SAV
Spoluautori	Karovič Karol 1939 SAVMER - Ústav merania SAV
	Witkovský Viktor 1963 SAVMER - Ústav merania SAV ^SCOPUS ^RID ^ORCID
	Köning R.

Zdroj.dok.	MEASUREMENT 2011 : 8th International Conference on Measurement. P. 80-83. - Bratislava : Institute of Measurement Science SAS, 2011 / Maňka Ján 1961 ; Witkovský Viktor 1963 ; Tyšler Milan 1951 ; Frollo Ivan 1939 ; MEASUREMENT 2011 8th International Conference on Measurement
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	SK - Slovenská republika
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rzb)
Ohlasy	DG7 (Discussion Group on Line Scales) Report to CCL (Consultative Committee for Length). CCL/12-37-01. BIMP HQ, Sèvres, France, 2012.
Kategória	AED - Vedecké práce v domácich recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách
Kategória (od 2022)	V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
Typ výstupu	príspevok
Rok vykazovania	2011

článok

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2011

Počet záznamov: 1