Počet záznamov: 1  

Characterization of epitaxial 4H-SiC as a material for spectrometric radiation detectors

  1. NázovCharacterization of epitaxial 4H-SiC as a material for spectrometric radiation detectors
    Autor Dubecký František 1946 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spoluautori Gombia E.

    Vanko Gabriel 1981 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Ferrari C.

    Ferrari C.

    Baldini M.

    Ryc L.

    Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Nečas V.

    Zdroj.dok. / Pudiš D. ; Kubicova I. ; Bury P. APCOM 2011 : proceedings of the 17th International Conference on Applied Physics of Condensed Matter, held in SPA Nový Smokovec, High Tatras, Slovakia, June 22-24, 2011. P. 240-243. - Žilina : University of Žilina, 2011
    Jazyk dok.slo - slovenčina
    Druh dok.rozpis článkov z periodík (rzb)
    KategóriaAED - Vedecké práce v domácich recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách
    Kategória (od 2022)V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Typ výstupupríspevok
    Rok vykazovania2011
    článok

    článok

    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    2011
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.