Počet záznamov: 1
Properties study of silicon carbide thin films prepared by electron cyclotron resonance plasma technology
Názov Properties study of silicon carbide thin films prepared by electron cyclotron resonance plasma technology Autor Valovič Albín SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Huran Jozef 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Kučera Michal 1956 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Kobzev A.P. Gaži Štefan 1948 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. European Physical Journal - Applied Physics. Vol. 56, (2011), 24013 Jazyk dok. eng - angličtina Druh dok. rozpis článkov z periodík (rbx) Ohlasy OMAR, M.F. - LEY, H.H. - ZAINAL, J. - ISMAIL, A.K. - IBRAHIM, R.K.R. - SAKRANI, S. In 2013 IEEE 4TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON PHOTONICS (ICP). 2013, p. 153-155. Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2011 Registrované v WOS Registrované v SCOPUS Registrované v CCC DOI 10.1051/epjap/2011110153 
článok
rok CC IF IF Q (best) JCR Av Jour IF Perc SJR SJR Q (best) CiteScore A rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2011 2010 0.902 Q3 0.498 Q2
Počet záznamov: 1