Počet záznamov: 1  

Aluminium oxide as passivation and gate insulator in GaAs-based field-effect transistors prepared in situ by metal-organic vapor deposition

  1. NázovAluminium oxide as passivation and gate insulator in GaAs-based field-effect transistors prepared in situ by metal-organic vapor deposition
    Autor Kordoš Peter SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spoluautori Kúdela Róbert 1952 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Stoklas Roman 1981 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Čičo Karol SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Mikulics M.

    Gregušová Dagmar 1958 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Novák Jozef 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Zdroj.dok. Applied Physics Letters. Vol. 100, (2012), 142113
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Druh dok.rozpis článkov z periodík (rbx)
    OhlasyWANG, L.S. - XU, J.P. - ZHU, S.Y. - HUANG, Y. - LAI, P.T. In APPLIED PHYSICS LETTERS. AUG 26 2013, vol. 103, no. 9.
    AOKI, T. - FUKUHARA, N. - OSADA, T. - SAZAWA, H. - HATA, M. - INOUE, T. In APPLIED PHYSICS EXPRESS. OCT 2014, vol. 7, no. 10.
    WANG, L.S. - XU, J.P. - LIU, L. - TANG, W.M. - LAI, P.T. In APPLIED PHYSICS EXPRESS. JUN 2014, vol. 7, no. 6.
    LIU, L.N. - CHOI, H.W. - XU, J.P. - LAI, P.T. In APPLIED PHYSICS LETTERS. NOV 23 2015, vol. 107, no. 21.
    LIU, L.N. - CHOI, H.W. - LAI, P.T. - XU, J.P. In JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B. SEP 2015, vol. 33, no. 5.
    LIU, L.N. - CHOI, H.W. - XU, J.P. - LAI, P.T. In PHYSICA STATUS SOLIDI-RAPID RESEARCH LETTERS. SEP 2016, vol. 10, no. 9, p. 703-707.
    MOILLE, G. - COMBRIE, S. - MORGENROTH, L. - LEHOUCQ, G. - NEUILLY, F. - HU, B.W. - DECOSTER, D. - DE ROSSI, A. In LASER & PHOTONICS REVIEWS. MAY 2016, vol. 10, no. 3, p. 409-419.
    LIU, L.N. - CHOI, H.W. - XU, J.P. - LAI, P.T. In APPLIED PHYSICS LETTERS. MAR 20 2017, vol. 110, no. 12.
    LIU, L.N. - CHOI, H.W. - XU, J.P. - LAI, P.T. In PHYSICA STATUS SOLIDI-RAPID RESEARCH LETTERS. SEP 2017, vol. 11, no. 9.
    LIU, L.N. - CHOI, H.W. - XU, J.P. - TANG, W.M. - LAI, P.T. GaAs Metal-Oxide-Semiconductor Capacitor With Nd-Based High-k Oxynitrides as Gate Dielectric and Passivation Layer. In IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. JAN 2018, vol. 65, no. 1, p. 72-78.
    IZSAK, Tibor - VANKO, Gabriel - BABCENKO, Oleg - VINCZE, Andrej - VOJS, Marian - ZATKO, Bohumir - KROMKA, Alexander. Influence of SiON interlayer on the diamond/GaN heterostructures studied by Raman and SIMS measurements. In MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-ADVANCED FUNCTIONAL SOLID-STATE MATERIALS, 2021, vol. 273, no., pp. ISSN 0921-5107. Dostupné na: https://doi.org/10.1016/j.mseb.2021.115434.
    VIMALA, P. - SHREE, Navya - PRIYADARSHINI, U. - SAMUEL, T. S. Arun. Improving on current using new double-material heterojunction gate all around TFET (DMHJGAA TFET): Modeling and simulation. In INTERNATIONAL JOURNAL OF COMPUTATIONAL MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING, 2021, vol. 10, no. 04, pp. ISSN 2047-6841. Dostupné na: https://doi.org/10.1142/S2047684121500214.
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2012
    Registrované vWOS
    Registrované vSCOPUS
    Registrované vCCC
    DOI 10.1063/1.3701584
    článok

    článok

    rokCCIFIF Q (best)JCR Av Jour IF PercSJRSJR Q (best)CiteScore
    A
    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    201220113.844Q12.814Q1
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.