Počet záznamov: 1
SIMS depth profiling of metallization contact layers for AlGaN/GaN heterostructures
Názov SIMS depth profiling of metallization contact layers for AlGaN/GaN heterostructures Autor Vincze A. Spoluautori Držík Milan Michalka M. Bruncko J. Vallo Martin SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Vanko Gabriel 1981 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Lalinský Tibor 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. / Vajda J. ; Jamnický I. APCOM 2012 : proceedings on Applied Physics of Condensed Matter of the 18th International Conference. P. 231-234. - Bratislava : Slovenská technická univerzita v Bratislave, 2012 ; International Conference on Applied Physics of Condensed Matter APCOM 2012 Jazyk dok. eng - angličtina Druh dok. rozpis článkov z periodík (rzb) Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2012 
článok
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2012
Počet záznamov: 1