Počet záznamov: 1
SIMS and XRD analysis on Ir contact layers for AlGaN/GaN HEMT structures
Názov SIMS and XRD analysis on Ir contact layers for AlGaN/GaN HEMT structures Autor Vincze A. Spoluautori Vallo Martin SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Rýger Ivan 1987 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Vanko Gabriel 1981 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Lalinský Tibor 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. / Pudiš D. ; Lettrichová I. ; Šušlik Ľ. ; Kováč Jaroslav Jr. ; Vincze A. Proceedings of ADEPT : 1st International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies. P. 295-298. - Žilina : University of Žilina, 2013 Jazyk dok. eng - angličtina Druh dok. rozpis článkov z periodík (rzb) Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2013 článok
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2013
Počet záznamov: 1