SIMS and XRD analysis on Ir contact layers for AlGaN/GaN HEMT structures

Počet záznamov: 1

Názov	SIMS and XRD analysis on Ir contact layers for AlGaN/GaN HEMT structures
Autor	Vincze A.
Spoluautori	Vallo Martin SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Rýger Ivan 1987 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Vanko Gabriel 1981 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Lalinský Tibor 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

Zdroj.dok.	/ Pudiš D. ; Lettrichová I. ; Šušlik Ľ. ; Kováč Jaroslav Jr. ; Vincze A. Proceedings of ADEPT : 1st International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies. P. 295-298. - Žilina : University of Žilina, 2013
Jazyk dok.	eng - angličtina
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rzb)
Kategória	AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
Rok vykazovania	2013

článok

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2013

Počet záznamov: 1