Determination of residual stress in thin film by GIXRD

Počet záznamov: 1

Názov	Determination of residual stress in thin film by GIXRD
Autor	Novák P.
Spoluautori	Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Búc D.
	Kováč Jaroslav

Zdroj.dok.	/ Vajda J. ; Jamnický I. Proceedings of the 20th International Conference on Applied Physics of Condensed Matter : APCOM 2014. P. 300-303. - Bratislava : FEI STU, 2014 ; International Conference on Applied Physics of Condensed Matter APCOM 2014
Jazyk dok.	slo - slovenčina
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rzb)
Kategória	AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
Rok vykazovania	2014

článok

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2014

Počet záznamov: 1