Simulations and surface quality testing of high asymmetry angle x-ray crystal monochromators for advanced x-ray imaging applications

Počet záznamov: 1

Názov	Simulations and surface quality testing of high asymmetry angle x-ray crystal monochromators for advanced x-ray imaging applications
Autor	Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
Spoluautori	Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Šiffalovič Peter 1975 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV ^ORCID
	Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV ^SCOPUS ^RID ^ORCID
	Demydenko Maksym 1985 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
	Mikulík P.
	Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Ferrari C.
	Vagovič Patrik
	Mikloška M.

Zdroj.dok.	Proceedings of the SPIE. Vol. 9207, (2014), 92070Y
Jazyk dok.	eng - angličtina
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rbx)
Ohlasy	ZHU, J. - JI, M. - MA, S. Influence of asymmetrical angle on crystal lattice strain analysis using Voigt-function method. In ACTA PHYSICA SINICA. FEB 5 2018, vol. 67, no. 3.
Kategória	ADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS
Kategória (od 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Typ výstupu	článok
Rok vykazovania	2014
Registrované v	WOS
Registrované v	SCOPUS
DOI	10.1117/12.2061353

článok

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	N

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2014	2013			0.223

Počet záznamov: 1