Počet záznamov: 1  

Measuring of residual stresses in strongly textured thin films

  1. NázovMeasuring of residual stresses in strongly textured thin films
    Autor Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID
    Spoluautori Novák P.

    Búc D.

    Zdroj.dok. Materials Structure : in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Vol. 22, (2015), p. 171-172
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Druh dok.rozpis článkov z periodík (rbx)
    KategóriaADEB - Vedecké práce v ostatných zahraničných časopisoch neimpaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2015
    článok

    článok

    rokCCIFIF Q (best)JCR Av Jour IF PercSJRSJR Q (best)CiteScore
    N
    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    2015
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.