Počet záznamov: 1
Optical Characteristic Measurement Device
Názov Optical Characteristic Measurement Device : Patent WO 2012/121323 A1. (Assignee: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Tokyo, Japan) Autor Kawate E. Spoluautori Hain Miroslav 1960 SAVMER - Ústav merania SAV SCOPUS RID ORCID Vyd.údaje Japan Patent Office , September 13, 2012 Jazyk dok. eng - angličtina Krajina JP - Japonsko Druh dok. monografie Kategória AGJ - Patentové prihlášky, prihlášky úžitkových vzorov, dizajnov, ochranných známok,... Rok vykazovania 2012 
kniha
Počet záznamov: 1