IR spectroscopy of silicon oxide thin layer

Počet záznamov: 1

Názov	IR spectroscopy of silicon oxide thin layer
Autor	Kopáni M.
Spoluautori	Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV ^ORCID

Spoluautori	Mikula M. Kobayashi H.
Zdroj.dok.	/ Brunner Róbert 1954 Progress in Applied Surface, Interface and Thin Film Science 2015 (SURFINT-SREN IV), November 23-26, 2015, Florence, Italy : Extended Abstract Book. - Bratislava : Comenius University, 2015 . P. 81-83
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	SK - Slovenská republika
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rzb)
Kategória	AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
Rok vykazovania	2015

článok

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
0

Počet záznamov: 1