Počet záznamov: 1
Optical Characteristic Measuring Apparatus
Názov Optical Characteristic Measuring Apparatus : Patent US 8 982 345 B2. (Assignee: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Tokyo, Japan) Autor Kawate E. Spoluautori Hain Miroslav 1960 SAVMER - Ústav merania SAV SCOPUS RID ORCID Vyd.údaje United States Patent and Trademark Office , March 17, 2015 Jazyk dok. eng - angličtina Krajina US - Spojené štáty Druh dok. monografie Ohlasy KAUPP, Ansgar - SPRINGMANN, Soeren – LUETJENS, Dirk. Inspection apparatus and inspection method for inspection of the surface appearance of a flat item that represents a test specimen. US Patent 10215708B2, 2019. Kategória AGJ - Patentové prihlášky, prihlášky úžitkových vzorov, dizajnov, ochranných známok,... Rok vykazovania 2016 
kniha
Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Optical Characteristic Measuring Apparatus.pdf Prístupný 2 MB 2 Vydavateľská verzia
Počet záznamov: 1