Trap analysis in GaN-based heterostructures using current transients measurements

Počet záznamov: 1

Názov	Trap analysis in GaN-based heterostructures using current transients measurements
Autor	Florovič M.
Spoluautori	Škriniarová Jaroslava
	Gregušová Dagmar 1958 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Kováč Jaroslav
	Kordoš Peter

Zdroj.dok.	ASDAM 2016 : the 11th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. P. 185-188. - : IEEE, 2016 / Haščík Štefan 1956 ; Dzuba Jaroslav 1987 ; Vanko Gabriel 1981
Jazyk dok.	eng - angličtina
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rzb)
Kategória	ADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS
Kategória (od 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Typ výstupu	článok
Rok vykazovania	2016
Registrované v	WOS
Registrované v	SCOPUS
DOI	10.1109/ASDAM.2016.7805926

článok

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	N

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2016

Počet záznamov: 1