Počet záznamov: 1  

Investigation of the AZ 5214E photoresist by the laser interference, EBDW and NSOM lithographies

  1. NázovInvestigation of the AZ 5214E photoresist by the laser interference, EBDW and NSOM lithographies
    Autor Škriniarová Jaroslava
    Spoluautori Pudiš D.

    Andok Robert 1973- SAVINFO - Ústav informatiky SAV    SCOPUS    RID    ORCID

    Lettrichová I.

    Uherek F.

    Zdroj.dok. Applied Surface Science. Vol. 395 (2017), p. 226-231
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Druh dok.rozpis článkov z periodík (rbx)
    OhlasyTOBING, Landobasa Y. M. - MUELLER, Aaron D. - TONG, Jinchao - ZHANG, Dao Hua. Nanobridges formed through electron beam image reversal lithography for plasmonic mid-infrared resonators with high aspect ratio nanogaps. In NANOTECHNOLOGY. ISSN 0957-4484, 2019, vol. 30, no. 42, pp.
    DAUD, Nurulhaidah - RAZAK, Nor Farhah - ABD RAHMAN, Normahirah Nek - ZAHIDI, Azizah Mohd - CHIN, Siew Xian - MUDA, Tengku Elmi Azlina Tengku - SYONO, Mohd Ismahadi. Image Reversal Resist Photolithography of Silicon-Based Platinum and Silver Microelectrode Pattern. In SAINS MALAYSIANA. ISSN 0126-6039, 2021, vol. 50, no. 2, pp. 515-523.
    LIANG WENYAO - YANG JIAQI - LI ZHIYUAN. Numerical Simulation on Fabricating Compound Photonic Crystals by Multi-Beam Holographic Interferometry. In ACTA OPTICA SINICA. ISSN 0253-2239, 2021, vol. 41, no. 11, pp. Dostupné na: https://doi.org/10.3788/AOS202141.1116002.
    WANG, Xuewen - YUAN, Jinpeng - WANG, Lirong - XIAO, Liantuan - JIA, Suotang. Enhanced frequency up-conversion based on four-wave mixing assisted by a Bessel-Gaussian beam in Rb-85 atoms. In OPTICS AND LASER TECHNOLOGY, 2022, vol. 149, no., pp. ISSN 0030-3992. Dostupné na: https://doi.org/10.1016/j.optlastec.2022.107874.
    XU, Guo-Juan - LI, Qian-Hua - CHENG, Chang - ZOU, Rong - LI, Xiao-Jie - MA, Ren-De - CAO, Hong-Zhong. Two-photon nanolithography of positive photoresist of AZ 5214E with a spatial resolution at nanoscale. In JOURNAL OF MICRO-NANOPATTERNING MATERIALS AND METROLOGY-JM3, 2023, vol. 22, no. 1, pp. ISSN 1932-5150. Dostupné na: https://doi.org/10.1117/1.JMM.22.1.013001.
    YU, K.C. - TIAN, H. - LI, R. - HAO, L.Z. - ZHANG, K.M. - ZHU, X.D. - MA, Y.Q. - MA, L. Electron-Beam Direct Writing-Based High-Performance Graphene Electrode Fabrication. In ACS APPLIED ELECTRONIC MATERIALS. SEP 5 2023, vol. 5, no. 9, p. 5187-5192. Dostupné na: https://doi.org/10.1021/acsaelm.3c00917.
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2017
    Registrované vWOS
    Registrované vSCOPUS
    Registrované vCCC
    DOI 10.1016/j.apsusc.2016.06.141
    článok

    článok

    Názov súboruPrístupVeľkosťStiahnutéTypLicence
    Investigation of the AZ 5214E photoresist by the laser interference, EBDW and NSOM lithographies.pdfNeprístupný/archív1.8 MB1Vydavateľská verzia
    rokCCIFIF Q (best)JCR Av Jour IF PercSJRSJR Q (best)CiteScore
    A
    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    201720163.387Q10.958Q1
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.