Počet záznamov: 1  

Comparison of critical current scaling behaviors in MgB2/SiC/Si thin films

  1. NázovComparison of critical current scaling behaviors in MgB2/SiC/Si thin films
    Autor Nishida A.
    Spoluautori Taka C.

    Chromik Štefan 1949 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Durný R.

    Zdroj.dok. Journal of Low Temperature Physics. Vol. 187, (2017), p. 565-572
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Druh dok.rozpis článkov z periodík (rbx)
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2017
    Registrované vWOS
    Registrované vSCOPUS
    Registrované vCCC
    DOI 10.1007/s10909-017-1777-z
    článok

    článok

    rokCCIFIF Q (best)JCR Av Jour IF PercSJRSJR Q (best)CiteScore
    A
    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    201720161.300Q30.461Q2
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.