High energy ion detection using 4H-SiC semiconductor detector

Počet záznamov: 1

Názov	High energy ion detection using 4H-SiC semiconductor detector
Autor	Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
Spoluautori	Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Sedlačková K.
	Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Šagátová A.
	Sekáčová Mária 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Arbet Juraj 1959 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Skuratov V.A.
	Nečas V.

Zdroj.dok.	APCOM 2017 : proceedings of the 23th International Conference on Applied Physics of Condensed Matter, June 12-14, 2017, Štrbské Pleso, Slovak Republic. P. 154-157. - Bratislava : SPEKTRUM STU, 2017 / Vajda J. ; Jamnický I.
Jazyk dok.	eng - angličtina
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rzb)
Kategória	AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
Rok vykazovania	2017

článok

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2017

Počet záznamov: 1