Non-conventional scans in high-resolution X-ray diffraction analysis of epitaxial systems

Počet záznamov: 1

Názov	Non-conventional scans in high-resolution X-ray diffraction analysis of epitaxial systems
Autor	Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
Spoluautori	Hasenöhrl Stanislav 1956 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Chauhan Prerna SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Kuzmík Ján 1960 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID

Zdroj.dok.	Applied Surface Science. Vol. 461 (2018), p. 23-32
Jazyk dok.	eng - angličtina
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rbx)
Kategória	ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
Kategória (od 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Typ výstupu	článok
Rok vykazovania	2018
Registrované v	WOS
Registrované v	SCOPUS
Registrované v	CCC
DOI	10.1016/j.apsusc.2018.07.009

článok

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	A

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2018	2017	4.439	Q1	1.093	Q1

Počet záznamov: 1