TDR and TDT methods for measuring pulse characteristics of semiconductor devices

Počet záznamov: 1

Názov	TDR and TDT methods for measuring pulse characteristics of semiconductor devices
Autor	Vilhan Martin SAVMER - Ústav merania SAV
Spoluautori	Šatka A.
	Priesol J.

Zdroj.dok.	Proceedings of ELITECH '19 : 21th Conference of Doctoral Students. P. non. - Bratislava, Slovak Republic : Slovak University of Technology, 2019 / Kozáková Alena ; Juhás G. ; Šály V. ; ELITECH '19 21th Conference of Doctoral Students
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	SK - Slovenská republika
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rzb)
Kategória	AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
Rok vykazovania	2019

článok

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2019

Počet záznamov: 1