Počet záznamov: 1
Measurement of the reverse recovery characteristics of p-n junction diodes by TDT and TDR methods
Názov Measurement of the reverse recovery characteristics of p-n junction diodes by TDT and TDR methods Autor Vilhan Martin SAVMER - Ústav merania SAV Spoluautori Šatka Alexander 1960 SAVMER - Ústav merania SAV SCOPUS RID ORCID Priesol J. Zdroj.dok. : 7th International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies ADEPT 2019. - Žilina, Slovakia : University of Žilina, 2019 / Jandura D. ; Šušlik Ľ. ; Urbancová P. ; Kováč J., jr. ; ADEPT 2019 7th International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies Jazyk dok. eng - angličtina Krajina SK - Slovenská republika Druh dok. rozpis článkov z periodík (rzb) Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2019 
článok
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 0
Počet záznamov: 1