Počet záznamov: 1
Scaling analyses on the critical current density in MgB2/SiC/Si thin film processed at higher temperature
Názov Scaling analyses on the critical current density in MgB2/SiC/Si thin film processed at higher temperature Autor Nishida A. Spoluautori Taka C. Chromik Štefan 1949 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Zdroj.dok. IOP Conference Series: Materials Science and Engineering : ICEC-ICMC 2018. Vol. 502 (2019), no. 012184 Jazyk dok. eng - angličtina Druh dok. rozpis článkov z periodík (rbx) Kategória ADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2019 Registrované v WOS Registrované v SCOPUS DOI 10.1088/1757-899X/502/1/012184 článok
Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Scaling analyses on the critical current density in MgB2SiCSi thin film processed at higher temperature.pdf Prístupný 380.8 KB 1 Vydavateľská verzia rok CC IF IF Q (best) JCR Av Jour IF Perc SJR SJR Q (best) CiteScore N rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2019 2018 0.192
Počet záznamov: 1