Black silicon - correlation between microstructure and Raman scattering

Počet záznamov: 1

Názov	Black silicon - correlation between microstructure and Raman scattering
Autor	Jurečka Stanislav
Spoluautori	Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV ^ORCID

Spoluautori	Imamura Kentaro Matsumoto Taketoshi Kobayashi Hikaru
Zdroj.dok.	Journal of Electrical Engineering. Vol. 70, no. 7S (2019), p. 58-64
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	SK - Slovenská republika
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rbx)
Kategória	ADNA - Vedecké práce v domácich impaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS
Kategória (od 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Typ výstupu	článok
Rok vykazovania	2019
Registrované v	WOS
Registrované v	SCOPUS
DOI	10.2478/jee-2019-0042

článok

	Názov súboru	Prístup	Veľkosť	Stiahnuté	Typ	Licence
	Black silicon - correlation between microstructure and Raman scattering.pdf	Prístupný	1.3 MB	3	Vydavateľská verzia

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	N

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2019	2018	0.636	Q4	0.200	Q3

Počet záznamov: 1