Investigation of interfaces and threshold voltage instabilities in MOS-gated InGaN/AlGaN/GaN HEMTs

Počet záznamov: 1

Názov	Investigation of interfaces and threshold voltage instabilities in MOS-gated InGaN/AlGaN/GaN HEMTs
Autor	Pohorelec Ondrej SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
Spoluautori	Ťapajna Milan 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Gregušová Dagmar 1958 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Hasenöhrl Stanislav 1956 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Haščík Štefan 1956 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Stoklas Roman 1981 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Pécz B.
	Tóth L.
	Kuzmík Ján 1960 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID

Zdroj.dok.	SURFINT - SREN IV 2019 : Extended Abstract Book. P. 136-137. - Slovak Republic : Comenius University Bratislava, 2019 / Brunner Róbert 1954 ; SURFINT - SREN IV : Progress in applied surface, interface and thin film science
Jazyk dok.	eng - angličtina
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rzb)
Kategória	AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
Rok vykazovania	2019

článok

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2019

Počet záznamov: 1