Počet záznamov: 1  

Investigation of interfaces and threshold voltage instabilities in normally-off MOS-gated InGaN/AlGaN/GaN HEMTs

  1. NázovInvestigation of interfaces and threshold voltage instabilities in normally-off MOS-gated InGaN/AlGaN/GaN HEMTs
    Autor Pohorelec Ondrej SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spoluautori Ťapajna Milan 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Gregušová Dagmar 1958 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Gucmann Filip 1987 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Hasenöhrl Stanislav 1956 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Haščík Štefan 1956 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Stoklas Roman 1981 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Seifertová Alena 1958 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Pécz B.

    Tóth L.

    Kuzmík Ján 1960 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Zdroj.dok. Applied Surface Science. Vol. 528 (2020), no. 146824
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Druh dok.rozpis článkov z periodík (rbx)
    OhlasyTIAN, Y. - WEI, R.S. - SHAO, Y.L. - HAO, X.P. - WU, Y.Z. - ZHANG, L. - DAI, Y.B. - HUO, Q. - ZHANG, B.G. - HU, H.X. Comparison of Defects in Hydride Vapor Phase Epitaxy-Grown GaN Films under Different V/III Ratios and the Influence on the Electrical and Optical Properties. In INTERNATIONAL JOURNAL OF ELECTROCHEMICAL SCIENCE. ISSN 1452-3981, DEC 2020, vol. 15, no. 12, p. 12682-12689.
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2020
    Registrované vWOS
    Registrované vSCOPUS
    Registrované vCCC
    DOI 10.1016/j.apsusc.2020.146824
    článok

    článok

    Názov súboruPrístupVeľkosťStiahnutéTypLicence
    Investigation of Interfaces and Threshold Voltage Instabilities_submitt.pdfPrístupný1 MB6Autorský preprint
    Investigation of interfaces and threshold voltage.pdfNeprístupný/archív1.2 MB1Vydavateľská verzia
    rokCCIFIF Q (best)JCR Av Jour IF PercSJRSJR Q (best)CiteScore
    A
    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    202020196.182Q11.230Q1
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.