Počet záznamov: 1
Simultaneous monitoring of molecular thin film morphology and crystal structure by x-ray scattering
Názov Simultaneous monitoring of molecular thin film morphology and crystal structure by x-ray scattering Autor Mrkývková Naďa 1984 SAVFYZIK ; SAVCEMEA - Fyzikálny ústav SAV SCOPUS SCOPUS ORCID Spoluautori Nádaždy Peter SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Hodas Martin 1986 Chai J. Wang S. Chi D. Sojková Michaela 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Hulman Martin 1967 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Chumakov A. Konovalov O. Hinderhofer A. Jergel Matej 1954- SAVFYZIK ; SAVCEMEA - Fyzikálny ústav SAV SCOPUS RID ORCID Majková Eva 1950 SAVFYZIK ; SAVCEMEA - Fyzikálny ústav SAV ORCID Šiffalovič Peter 1975 SAVFYZIK ; SAVCEMEA - Fyzikálny ústav SAV ORCID Schreiber F. Zdroj.dok. Crystal Growth & Design. Vol. 20, no. 8 (2020), p. 5269-5276 Jazyk dok. eng - angličtina Druh dok. rozpis článkov z periodík (rbx) Ohlasy XIE, Jiaqi - LIN, Weihua - BAZAN, Guillermo C. - PULLERITS, Tonu - ZHENG, Kaibo - LIANG, Ziqi. N-doping of nonfullerene bulk-heterojunction organic solar cells strengthens photogeneration and exciton dissociation. In JOURNAL OF MATERIALS CHEMISTRY A, 2022, vol. 10, no. 36, pp. 18845-18855. ISSN 2050-7488. Dostupné na: https://doi.org/10.1039/d2ta05078a. KING, Benjamin - RADFORD, Chase L. - VEBBER, Mario C. - RONNASI, Bahar - LESSARD, Benoit H. Not Just Surface Energy: The Role of Bis(pentafluorophenoxy) Silicon Phthalocyanine Axial Functionalization and Molecular Orientation on Organic Thin-Film Transistor Performance. In ACS APPLIED MATERIALS & INTERFACES, 2023, vol. 15, no. 11, pp. 14937-14947. ISSN 1944-8244. Dostupné na: https://doi.org/10.1021/acsami.2c22789. Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2020 Registrované v WOS Registrované v SCOPUS Registrované v CCC DOI 10.1021/acs.cgd.0c00448 
článok
Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence 4.pdf Neprístupný/archív 2.1 MB 1 Vydavateľská verzia rok CC IF IF Q (best) JCR Av Jour IF Perc SJR SJR Q (best) CiteScore A rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2020 2019 4.089 Q1 1.004 Q1
Počet záznamov: 1