Investigation of structural changes in AsxSe100-x amorphous thin films after electron beam irradiation with XAFS, XANES and Kelvin force microscopy

Počet záznamov: 1

Názov	Investigation of structural changes in AsxSe100-x amorphous thin films after electron beam irradiation with XAFS, XANES and Kelvin force microscopy
Autor	Shylenko O.
Spoluautori	Bilanych B.
	Bilanych V.S.
	Latyshev Vitalii
	Saksl Karel 1974 SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV ^SCOPUS ^ORCID
	Molčanová Zuzana 1985 SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV ^SCOPUS ^ORCID
	Ballóková Beáta 1966 SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV ^ORCID
	Ďurišin Juraj Jr.
	Lytvyn P.M.
	Feher Alexander
	Rizak V.
	Komanický Vladimír

Zdroj.dok.	Applied Surface Science. Vol. 530 (2020), p. 147266
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	NL - Holandsko
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rbx)
Kategória	ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
Kategória (od 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Typ výstupu	článok
Rok vykazovania	2020
Registrované v	WOS
Registrované v	SCOPUS
Registrované v	CCC
DOI	10.1016/j.apsusc.2020.147266

článok

	Názov súboru	Prístup	Veľkosť	Stiahnuté	Typ	Licence
	Investigation of structural changes in AsxSe100-x amorphous thin films after electron beam irradiation with XAFS, XANES and Kelvin force microscopy.pdf	Prístupný	3.9 MB	0	Vydavateľská verzia

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	A

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2020	2019	6.182	Q1	1.230	Q1

Počet záznamov: 1