Počet záznamov: 1  

The amplitude defect of SiC detectors during the recording of accelerated Xe ions

  1. NázovThe amplitude defect of SiC detectors during the recording of accelerated Xe ions
    Autor Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spoluautori Gurov J.B.

    Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Rozov S.V.

    Rozov I.E.

    Sandukovsky V.G.

    Skuratov V.A.

    Zdroj.dok. Physics of atomic nuclei. Vol. 82 (2019), p. 1682-1685
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Druh dok.rozpis článkov z periodík (rbx)
    OhlasyGAO, Run-Long - LIU, Lin-Yue - RUAN, Jin-Lu - JIN, Peng - OUYANG, Xiao - ZHOU, Lei-Dang - LI, Yang - ZHANG, Si-Long - ZHAO, Kuo - OUYANG, Xiao-Ping. Systematic Analysis of Reliability of Large-Area 4H-SiC Charged Particle Detector Under Harsh He Ion Irradiation. In IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2021, vol. 68, no. 5, pp. 1169-1174. ISSN 0018-9499. Dostupné na: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3069568.
    ZHANG, X.P. - SONG, Z.H. - ZHANG, J.F. - LIU, L.Y. - LIU, J.L. - YI, H. - CHEN, Y.H. - JIANG, W. Measurement of the neutron energy response curve of 4H-SiC detector based fission target detection system at the CSNS Back-n white neutron source. In JOURNAL OF INSTRUMENTATION. ISSN 1748-0221, SEP 2023, vol. 18, no. 9. Dostupné na: https://doi.org/10.1088/1748-0221/18/09/P09038.
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2019
    Registrované vWOS
    Registrované vSCOPUS
    Registrované vCCC
    DOI 10.1134/S1063778819120111
    článok

    článok

    rokCCIFIF Q (best)JCR Av Jour IF PercSJRSJR Q (best)CiteScore
    A
    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    201920180.458Q40.277Q3
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.