Počet záznamov: 1
Influence of SiON interlayer on the diamond/GaN heterostructures studied by Raman and SIMS measurements
Názov Influence of SiON interlayer on the diamond/GaN heterostructures studied by Raman and SIMS measurements Autor Izsák Tibor SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Spoluautori Vanko Gabriel 1981 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Babchenko Oleg 1983 Vincze A. Vojs M. Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Kromka A. Zdroj.dok. Materials Science and Engineering B - Solid-State Materials for Advanced Technology. Vol. 273 (2021), no. 115434 Jazyk dok. eng - angličtina Druh dok. rozpis článkov z periodík (rbx) Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2021 Registrované v WOS Registrované v SCOPUS Registrované v CCC DOI 10.1016/j.mseb.2021.115434 článok
Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Influence of SiON interlayer on the diamond GaN heterostructures studied by Raman.pdf Prístupný 2.7 MB 0 Autorský preprint Influence of SiON interlayer on the diamond GaN heterostructures studied.pdf Neprístupný/archív 2.9 MB 1 Vydavateľská verzia rok CC IF IF Q (best) JCR Av Jour IF Perc SJR SJR Q (best) CiteScore A rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2021 2020 4.051 Q2 0.850 Q1
Počet záznamov: 1