Počet záznamov: 1
Identification of electrically stressed regions in AlGaN/GaN-on-Si Schottky barrier diode using EBIC technique
Názov Identification of electrically stressed regions in AlGaN/GaN-on-Si Schottky barrier diode using EBIC technique Autor Priesol J. Spoluautori Šatka Alexander 1960 SAVMER - Ústav merania SAV SCOPUS RID ORCID Chvála A. Stoffels S. De Jaeger B. Decoutere S. Zdroj.dok. IEEE Transactions on Electron Devices. Vol. 68, no. 1 (2021), p. 216-221 Jazyk dok. eng - angličtina Krajina US - Spojené štáty Druh dok. rozpis článkov z periodík (rbx) Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2021 Registrované v WOS Registrované v SCOPUS Registrované v CCC DOI 10.1109/TED.2020.3039756 článok
Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Identification of electrically stressed regions.pdf Neprístupný/archív 2 MB 1 Vydavateľská verzia rok CC IF IF Q (best) JCR Av Jour IF Perc SJR SJR Q (best) CiteScore A rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2021 2020 2.917 Q2 0.828 Q1
Počet záznamov: 1