Raman spectroscopy of silicon with nanostructured surface

Počet záznamov: 1

Názov	Raman spectroscopy of silicon with nanostructured surface
Autor	Kadlečíková M.
Spoluautori	Vančo L.
	Breza J.
	Mikolášek M.
	Hušeková Kristína 1957 SAVCEMEA ; SAVELEK - Centrum pre využitie pokročilých materiálov SAV
	Fröhlich Karol 1954 SAVCEMEA ; SAVELEK - Centrum pre využitie pokročilých materiálov SAV ^ORCID
	Procel P.
	Zeman M.
	Isabella O.

Zdroj.dok.	Optik : International Journal for Light and Electron Optics. Vol. 257 (2022), no. 168869
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	DE - Nemecko
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rbx)
Kategória	ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
Kategória (od 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Typ výstupu	článok
Rok vykazovania	2022
Registrované v	WOS
Registrované v	SCOPUS
Registrované v	CCC
DOI	10.1016/j.ijleo.2022.168869

článok

	Názov súboru	Prístup	Veľkosť	Stiahnuté	Typ	Licence
	Raman spectroscopy of silicon with nanostructured surface.pdf	Neprístupný/archív	8.5 MB	2	Vydavateľská verzia

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	A

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2022	2021	2.840	Q2	0.523	Q2

Počet záznamov: 1