Surface quality characterization of thin Nb films for superconducting radiofrequency cavities

Počet záznamov: 1

Názov	Surface quality characterization of thin Nb films for superconducting radiofrequency cavities
Autor	Ries Rastislav SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
Spoluautori	Seiler Eugen 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Gömöry Fedor 1952 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Medvids A.
	Onufrijevs P.
	Pira C.
	Chyhyrynets E.
	Malyshev O.B.
	Valizadeh R.

Zdroj.dok.	Superconductor Science and Technology. Vol. 35 (2022), no. 075010
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	GB - Veľká Británia
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rbx)
Kategória	ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
Kategória (od 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Typ výstupu	článok
Rok vykazovania	2022
Registrované v	WOS
Registrované v	SCOPUS
Registrované v	CCC
DOI	10.1088/1361-6668/ac7261

článok

	Názov súboru	Prístup	Veľkosť	Stiahnuté	Typ	Licence
	Surface quality characterization of thin Nb films for.pdf	Prístupný	3 MB	3	Vydavateľská verzia

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	A

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2022	2021	3.464	Q2	0.826	Q1

Počet záznamov: 1