Few-tilt electron ptychotomography: a new method to determine the 3D structure of 2D materials with high-precision and low-dose

Počet záznamov: 1

Názov	Few-tilt electron ptychotomography: a new method to determine the 3D structure of 2D materials with high-precision and low-dose
Autor	Hofer C.
Spoluautori	Mustonen K.
	Skákalová Viera SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Pennycook T.J.

Zdroj.dok.	Microscopy and Microanalysis. Vol. 28, no. S1 (2022), p. 2526-2527
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	US - Spojené štáty
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rbx)
Kategória	ADEB - Vedecké práce v ostatných zahraničných časopisoch neimpaktovaných
Kategória (od 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Typ výstupu	článok z podujatia
Rok vykazovania	2022
DOI	10.1017/S1431927622009655

článok

	Názov súboru	Prístup	Veľkosť	Stiahnuté	Typ	Licence
	Few-tilt Electron Ptychotomography.pdf	Neprístupný/archív	463.1 KB	9	Vydavateľská verzia

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	N

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2022	2021	4.099	Q1	0.379	Q3

Počet záznamov: 1