A wide-angle X-ray scattering laboratory setup for tracking phase changes of thin films in a chemical vapor deposition chamber

Počet záznamov: 1

Názov	A wide-angle X-ray scattering laboratory setup for tracking phase changes of thin films in a chemical vapor deposition chamber
Autor	Végso Karol 1984 SAVFYZIK ; SAVCEMEA - Fyzikálny ústav SAV
Spoluautori	Shaji Ashin 1991 SAVMAMES - Ústav materiálov a mechaniky strojov SAV ^ORCID
	Sojková Michaela 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Pribusová Slušná Lenka SAVELEK ; SAVCEMEA - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Vojteková Tatiana SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Hrdá Jana SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Halahovets Yuriy 1982- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
	Hulman Martin 1967 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV ^SCOPUS ^RID ^ORCID
	Majková Eva 1950 SAVFYZIK ; SAVCEMEA - Fyzikálny ústav SAV ^ORCID
	Wiesmann J.
	Šiffalovič Peter 1975 SAVFYZIK ; SAVCEMEA - Fyzikálny ústav SAV ^ORCID

Zdroj.dok.	Review of Scientific Instruments. Vol. 93, no. 11 (2022), no. 113909
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	US - Spojené štáty
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rbx)
Kategória	ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
Kategória (od 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Typ výstupu	článok
Rok vykazovania	2022
Registrované v	WOS
Registrované v	SCOPUS
Registrované v	CCC
DOI	10.1063/5.0104673

článok

	Názov súboru	Prístup	Veľkosť	Stiahnuté	Typ	Licence
	A wide-angle X-ray scattering laboratory setup for tracking phase changes of thin films in a chemical vapor deposition chamber_2022.pdf	Neprístupný/archív	4.9 MB	0	Vydavateľská verzia

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	A

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2022	2021	1.843	Q3	0.606	Q2

Počet záznamov: 1