Počet záznamov: 1
A wide-angle X-ray scattering laboratory setup for tracking phase changes of thin films in a chemical vapor deposition chamber
Názov A wide-angle X-ray scattering laboratory setup for tracking phase changes of thin films in a chemical vapor deposition chamber Autor Végso Karol 1984 SAVFYZIK ; SAVCEMEA - Fyzikálny ústav SAV Spoluautori Shaji Ashin 1991 SAVMAMES - Ústav materiálov a mechaniky strojov SAV ORCID Sojková Michaela 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Pribusová Slušná Lenka SAVELEK ; SAVCEMEA - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Vojteková Tatiana SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Hrdá Jana SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Halahovets Yuriy 1982- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Hulman Martin 1967 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV SCOPUS RID ORCID Majková Eva 1950 SAVFYZIK ; SAVCEMEA - Fyzikálny ústav SAV ORCID Wiesmann J. Šiffalovič Peter 1975 SAVFYZIK ; SAVCEMEA - Fyzikálny ústav SAV ORCID Zdroj.dok. Review of Scientific Instruments. Vol. 93, no. 11 (2022), art. no. 113909 Jazyk dok. eng - angličtina Krajina US - Spojené štáty Druh dok. rozpis článkov z periodík (rbx) Ohlasy CLOUGH, Robert - FISHER, Andy - GIBSON, Bridget - RUSSELL, Ben. Atomic spectrometry update: review of advances in the analysis of metals, chemicals and materials. In JOURNAL OF ANALYTICAL ATOMIC SPECTROMETRY, 2023, vol. 38, no. 11, pp. 2215-2279. ISSN 0267-9477. Dostupné na: https://doi.org/10.1039/d3ja90038j. KNESCHAUREK, Ekaterina - HINDERHOFER, Alexander - HOFFERBERTH, Bernd - SCHEFFCZYK, Niels - PITHAN, Linus - ZIMMERMANN, Paul - MERTEN, Lena - BERTRAM, Florian - SCHREIBER, Frank. Compact sample environment for iin situ/i X-ray scattering during spin-coating. In REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 2023, vol. 94, no. 6, pp. ISSN 0034-6748. Dostupné na: https://doi.org/10.1063/5.0149613. Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2022 Registrované v WOS Registrované v SCOPUS Registrované v CCC DOI 10.1063/5.0104673 článok
Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence A wide-angle X-ray scattering laboratory setup for tracking phase changes of thin films in a chemical vapor deposition chamber_2022.pdf Neprístupný/archív 4.9 MB 0 Vydavateľská verzia rok CC IF IF Q (best) JCR Av Jour IF Perc SJR SJR Q (best) CiteScore A rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2022 2021 1.843 Q3 0.606 Q2
Počet záznamov: 1