Interfacial reactions and critical current density of Cu-sheathed Cu-doped MgB2 wire with Ti diffusion barrier

Počet záznamov: 1

Názov	Interfacial reactions and critical current density of Cu-sheathed Cu-doped MgB2 wire with Ti diffusion barrier
Autor	Srivastava N.
Spoluautori	Mehrotra S.
	Búran Marek SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Hušek Imrich 1958 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Sharma D.
	Kováč Pavol 1952 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID
	Santra S.

Zdroj.dok.	Journal of Alloys and Compounds. Vol. 966 (2023), no. 171657
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	CH - Švajčiarsko
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rbx)
Kategória	ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
Kategória (od 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Typ výstupu	článok
Rok vykazovania	2023
Registrované v	WOS
Registrované v	SCOPUS
Registrované v	CCC
DOI	10.1016/j.jallcom.2023.171657

článok

	Názov súboru	Prístup	Veľkosť	Stiahnuté	Typ	Licence
	Interfacial reactions and critical current density of Cu-sheathed Cu-doped.pdf	Neprístupný/archív	10.1 MB	2	Vydavateľská verzia

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	A

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2023	2022	6.2	Q1	0.678	Q1

Počet záznamov: 1