Počet záznamov: 1  

Interfacial reactions and critical current density of Cu-sheathed Cu-doped MgB2 wire with Ti diffusion barrier

  1. NázovInterfacial reactions and critical current density of Cu-sheathed Cu-doped MgB2 wire with Ti diffusion barrier
    Autor Srivastava N.
    Spoluautori Mehrotra S.

    Búran Marek SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Hušek Imrich 1958 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV

    Sharma D.

    Kováč Pavol 1952 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV    ORCID

    Santra S.

    Zdroj.dok. Journal of Alloys and Compounds. Vol. 966 (2023), no. 171657
    Jazyk dok.eng - angličtina
    KrajinaCH - Švajčiarsko
    Druh dok.rozpis článkov z periodík (rbx)
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2023
    Registrované vWOS
    Registrované vSCOPUS
    Registrované vCCC
    DOI 10.1016/j.jallcom.2023.171657
    článok

    článok

    Názov súboruPrístupVeľkosťStiahnutéTypLicence
    Interfacial reactions and critical current density of Cu-sheathed Cu-doped.pdfNeprístupný/archív10.1 MB0Vydavateľská verzia
    rokCCIFIF Q (best)JCR Av Jour IF PercSJRSJR Q (best)CiteScore
    A
    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    202320226.2Q10.678Q1
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.