Picometer-precision few-tilt ptychotomography of 2D materials

Počet záznamov: 1

Názov	Picometer-precision few-tilt ptychotomography of 2D materials
Autor	Hofer C.
Spoluautori	Mustonen K.
	Skákalová Viera SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Pennycook T.J.

Zdroj.dok.	. Vol. 10 (2023), no. 035029 2D Materials
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	GB - Veľká Británia
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rbx)
Kategória	ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
Kategória (od 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Typ výstupu	článok
Rok vykazovania	2023
Registrované v	WOS
Registrované v	SCOPUS
Registrované v	CCC
DOI	10.1088/2053-1583/acdd80

článok

	Názov súboru	Prístup	Veľkosť	Stiahnuté	Typ	Licence
	Picometer-precision few-tilt ptychotomography of 2D materials.pdf	Prístupný	3 MB	0	Vydavateľská verzia

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	A

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2023	2022	5.5	Q2	1.631	Q1

Počet záznamov: 1