Počet záznamov: 1
Analysis of structural defect states in thin films of small-molecular organic semiconductors using complex impedance data and DFT
Názov Analysis of structural defect states in thin films of small-molecular organic semiconductors using complex impedance data and DFT Autor Gmucová Katarína 1955 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV SCOPUS ORCID Nádaždy Vojtech 1961 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV SCOPUS ORCID Spoluautori Konôpka Martin Feriancová Lucia Bokes Peter Putala Martin Zdroj.dok. AIP Conference Proceedings. Vol. 3054, no. 1 (2024), art. no. 020002 Jazyk dok. eng - angličtina Krajina US - Spojené štáty Druh dok. rozpis článkov z periodík (rbx) Kategória ADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok z podujatia Rok vykazovania 2024 Registrované v SCOPUS DOI 10.1063/5.0187451 
článok
Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Analysis of Structural Defect States in Thin Films of Small Molecular Organic Semiconductors Using Complex Impedance Data and DFT_2024.pdf Prístupný 949.4 KB 4 Vydavateľská verzia rok CC IF IF Q (best) JCR Av Jour IF Perc SJR SJR Q (best) CiteScore N rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2024 2023 0.152
Počet záznamov: 1