Analysis of structural defect states in thin films of small-molecular organic semiconductors using complex impedance data and DFT

Počet záznamov: 1

Názov	Analysis of structural defect states in thin films of small-molecular organic semiconductors using complex impedance data and DFT
Autor	Gmucová Katarína 1955 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV ^SCOPUS ^ORCID Nádaždy Vojtech 1961 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV ^SCOPUS ^ORCID

Spoluautori	Konôpka Martin Feriancová Lucia Bokes Peter Putala Martin
Zdroj.dok.	AIP Conference Proceedings. Vol. 3054, no. 1 (2024), art. no. 020002
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	US - Spojené štáty
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rbx)
Kategória	ADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS
Kategória (od 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Typ výstupu	článok z podujatia
Rok vykazovania	2024
Registrované v	SCOPUS
DOI	10.1063/5.0187451

článok

	Názov súboru	Prístup	Veľkosť	Stiahnuté	Typ	Licence
	Analysis of Structural Defect States in Thin Films of Small Molecular Organic Semiconductors Using Complex Impedance Data and DFT_2024.pdf	Prístupný	949.4 KB	4	Vydavateľská verzia

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	N

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2024	2023			0.152

Počet záznamov: 1