Počet záznamov: 1  

Demonstration of sensitivity of the total-electron-yield extended X-ray absorption fine structure method on plastic deformation of the surface layer

  1. NázovDemonstration of sensitivity of the total-electron-yield extended X-ray absorption fine structure method on plastic deformation of the surface layer
    Autor Oroszová Lenka SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV
    Spoluautori Saksl Karel 1974 SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV    SCOPUS    ORCID

    Csík Dávid SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV

    Nigutová Katarína SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV

    Molčanová Zuzana 1985 SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV    SCOPUS    ORCID

    Ballóková Beáta 1966 SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV    ORCID

    Zdroj.dok. Coatings. Vol. 14 iss. 3 (2024), art. no. 295
    Jazyk dok.eng - angličtina
    KrajinaCH - Švajčiarsko
    Druh dok.rozpis článkov z periodík (rbx)
    KategóriaADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných
    Kategória (od 2022)V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    Typ výstupučlánok
    Rok vykazovania2024
    Registrované vWOS
    Registrované vSCOPUS
    Registrované vCCC
    DOI 10.3390/coatings14030295
    článok

    článok

    Názov súboruPrístupVeľkosťStiahnutéTypLicence
    Demonstration of Sensitivity of the.pdfPrístupný941.1 KB1Vydavateľská verzia
    rokCCIFIF Q (best)JCR Av Jour IF PercSJRSJR Q (best)CiteScore
    A
    rok vydaniarok metrikyIFIF Q (best)SJRSJR Q (best)
    202420232.9Q20.493Q2
Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.