Počet záznamov: 1
Demonstration of sensitivity of the total-electron-yield extended X-ray absorption fine structure method on plastic deformation of the surface layer
Názov Demonstration of sensitivity of the total-electron-yield extended X-ray absorption fine structure method on plastic deformation of the surface layer Autor Oroszová Lenka SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV Spoluautori Saksl Karel 1974 SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV SCOPUS ORCID Csík Dávid SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV Nigutová Katarína SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV Molčanová Zuzana 1985 SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV SCOPUS ORCID Ballóková Beáta 1966 SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV ORCID Zdroj.dok. Coatings. Vol. 14 iss. 3 (2024), art. no. 295 Jazyk dok. eng - angličtina Krajina CH - Švajčiarsko Druh dok. rozpis článkov z periodík (rbx) Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2024 Registrované v WOS Registrované v SCOPUS Registrované v CCC DOI 10.3390/coatings14030295 
článok
Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Demonstration of Sensitivity of the.pdf Prístupný 941.1 KB 1 Vydavateľská verzia rok CC IF IF Q (best) JCR Av Jour IF Perc SJR SJR Q (best) CiteScore A rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2024 2023 0.493 Q2
Počet záznamov: 1