Electrical properties study of the 4H-SiC detectors based on thick epitaxial layer

Počet záznamov: 1

Názov	Electrical properties study of the 4H-SiC detectors based on thick epitaxial layer
Autor	Šagátová A.
Spoluautori	Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Kurucová N.
	Nečas V.
	Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Evseev S.A.
	Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ^ORCID

Zdroj.dok.	AIP Conference Proceedings : Applied Physics of Condensed Matter (APCOM 2023). Vol. 3054 (2024), no. 050011
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	US - Spojené štáty
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rbx)
Kategória	ADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS
Kategória (od 2022)	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Typ výstupu	článok z podujatia
Rok vykazovania	2024
Registrované v	SCOPUS
DOI	10.1063/5.0187794

článok

rok	CC	IF	IF Q (best)	JCR Av Jour IF Perc	SJR	SJR Q (best)	CiteScore
	N

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2024	2023			0.152

Počet záznamov: 1