Počet záznamov: 1
Vyšetrovanie vlastností antireflekčných vrstiev SiN a SiO pre GaAs fotodetektory
Názov Vyšetrovanie vlastností antireflekčných vrstiev SiN a SiO pre GaAs fotodetektory Autor Šafránková Jaroslava SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Kordoš Peter SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Guldan Arnošt SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Chromik Štefan 1949 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV ORCID Kubek Jozef SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. Elektrotechnický časopis. Roč. 36, č. 10 (1985), s. Jazyk dok. slo - slovenčina Krajina CS - Československo Druh dok. rozpis článkov z periodík (rbx) Heslá GaAs * fotodetektory - vrstvy antireflekčné * SiN * SiO Kategória ADFB - Vedecké práce v ostatných domácich časopisoch neimpaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 1985 článok
rok CC IF IF Q (best) JCR Av Jour IF Perc SJR SJR Q (best) CiteScore N rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 1985
Počet záznamov: 1