Defect-oriented test generation and fault simulation in the environment of MOSCITO

Počet záznamov: 1

Názov	Defect-oriented test generation and fault simulation in the environment of MOSCITO
Autor	Schneider Andrea
Spoluautori	Diener K.-H.
	Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV ^SCOPUS ^RID
	1955- Fischerová Mária SAVINFO - Ústav informatiky SAV ^SCOPUS
	Ivask E.
	Ubar R.
	Pleskacz W.
	Kuzmicz W.

Zdroj.dok.	BEC 2002 : Proceedings of the 8th Biennial Baltic Electronics Conference. (2002), S. 303-305. - Tallinn
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	EE - Estónsko
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rzb)
Kategória	AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách
Kategória (od 2022)	V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
Typ výstupu	príspevok
Rok vykazovania	2002

kniha

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2002

Počet záznamov: 1