Diagnostics of LT GaAs/InP structures by micro-Raman spectroscopy

Počet záznamov: 1

Názov	Diagnostics of LT GaAs/InP structures by micro-Raman spectroscopy
Autor	Srnánek R.
Spoluautori	Irmer R.
	Zalusky F.
	Dubecký František 1946 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Kúdela Róbert 1952 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
	Vincze A.
	Novotný I.
	John J.

Zdroj.dok.	ASDAM 2006 : proceedings of the 6th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. P. 55-58. - Piscataway : IEEE, 2006 / Breza J. ; Donoval D. ; Vavrinský E.
Jazyk dok.	eng - angličtina
Krajina	US - Spojené štáty
Druh dok.	rozpis článkov z periodík (rzb)
Kategória	AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách
Kategória (od 2022)	V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
Typ výstupu	príspevok
Rok vykazovania	2006

článok

rok vydania	rok metriky	IF	IF Q (best)	SJR	SJR Q (best)
2006

Počet záznamov: 1