Počet záznamov: 1
Memory testing and self-repair
Názov Memory testing and self-repair. Chapter 7 Časť.dok. Chapter 7 Autor Fischerová Mária 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV SCOPUS Spoluautori Gramatová Elena 1949- SCOPUS RID Zdroj.dok. / Ubar Raimund ; Raik J. ; Vierhaus Heinrich T. Design and test technology for dependable systems-on-chip. P. 155-174. - New York : Information Science Reference, 2011 Jazyk dok. eng - angličtina Krajina US - Spojené štáty Druh dok. rozpis článkov z kníh (kapitoly) Ohlasy KRIŠTOFÍK, Š. Algoritmus vstavanej opravy pre vnorené pamäte s blokovou architektúrou záloh. In Počítačové architektúry a diagnostika - PAD 2012. ISBN 978-80-01-05106-1, 2012, pp. 103-108. KINCEL, Andrej - BALAZ, Marcel. MBIST for LEON3 processor core cache. In PROCEEDINGS OF THE 2013 IEEE 16TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DESIGN AND DIAGNOSTICS OF ELECTRONIC CIRCUITS & SYSTEMS (DDECS), 2013, vol., no., pp. 287-288. KRIŠTOFÍK, Š. Príspevok k architektúram a algoritmom samočinnej opravy pamätí RAM. Dizertačná práca. FIIT STU, Bratislava. 2015, 121 s. SPURNÝ, M. Configurable spare database reduction for RAMs. In 12th Student Research Conference in Informatics and Information Technologies (IIT.SRC 2016). 2016, pp. 53-58. Kategória ABC - Kapitoly vo vedeckých monografiách vydané v zahraničných vydavateľstvách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu kapitola Rok vykazovania 2011 
článok
rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2011
Počet záznamov: 1