Počet záznamov: 1
Investigation of structural changes in AsxSe100-x amorphous thin films after electron beam irradiation with XAFS, XANES and Kelvin force microscopy
Názov Investigation of structural changes in AsxSe100-x amorphous thin films after electron beam irradiation with XAFS, XANES and Kelvin force microscopy Autor Shylenko O. Spoluautori Bilanych B. Bilanych V.S. Latyshev Vitalii Saksl Karel 1974 SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV SCOPUS ORCID Molčanová Zuzana 1985 SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV SCOPUS ORCID Ballóková Beáta 1966 SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV ORCID Ďurišin Juraj Jr. Lytvyn P.M. Feher Alexander Rizak V. Komanický Vladimír Zdroj.dok. Applied Surface Science. Vol. 530 (2020), p. 147266 Jazyk dok. eng - angličtina Krajina NL - Holandsko Druh dok. rozpis článkov z periodík (rbx) Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2020 Registrované v WOS Registrované v SCOPUS Registrované v CCC DOI 10.1016/j.apsusc.2020.147266 článok
Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Investigation of structural changes in AsxSe100-x amorphous thin films after electron beam irradiation with XAFS, XANES and Kelvin force microscopy.pdf Prístupný 3.9 MB 0 Vydavateľská verzia rok CC IF IF Q (best) JCR Av Jour IF Perc SJR SJR Q (best) CiteScore A rok vydania rok metriky IF IF Q (best) SJR SJR Q (best) 2020 2019 6.182 Q1 1.230 Q1
Počet záznamov: 1