Počet záznamov: 1
Thin film analysis by x-ray scattering
Názov Thin film analysis by x-ray scattering Autor Birkholz Mario Vyd.údaje Weinheim : WILEY-VCH Verlag , 2006. - 522 s. Jazyk dok. eng - angličtina Krajina DE - Nemecko ISBN 3-527-31052-5 Počet ex. 1, z toho voľných 0, prezenčne 1 Druh dok. monografie 
kniha
Signatúra Lokácia Dislokácia Info 10213 Elektrotechnický ústav SAV dobr len prezenčne
Počet záznamov: 1